貴金屬材料(如金、鉑、鈀)因其高價值屬性,對檢測技術(shù)的精度與無損性提出嚴苛要求。傳統(tǒng)直讀光譜儀需通過電弧或火花激發(fā)樣品表面,雖能實現(xiàn)高精度分析,但不可避免地破壞材料完整性,導(dǎo)致貴金屬損耗與二次加工成本增加。相比之下,X熒光光譜儀憑借其非破壞性檢測特性,成為貴金屬質(zhì)量驗證的首選工具。
無損檢測,守護材料價值
X熒光光譜儀技術(shù)通過X射線激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子,使特征X射線熒光信號外溢,無需物理接觸即可完成元素定量分析。這一過程不會改變樣品化學(xué)成分或物理結(jié)構(gòu),尤其適用于首飾、文物、投資金條等高價值物品的現(xiàn)場檢測。例如,珠寶商可利用手持式XRF設(shè)備在30秒內(nèi)完成黃金純度檢測,既避免熔融取樣的損耗風(fēng)險,又滿足客戶對“原樣返還”的需求。
多元素同步分析,提升檢測效率
X熒光光譜儀可同時檢測貴金屬基體(如Au、Pt)及摻雜元素(如Ag、Cu、Ni),覆蓋從ppm級到100%的濃度范圍。其光譜解析能力可區(qū)分同位素干擾(如Au-197與Hg-197),確保檢測結(jié)果精準可靠。在貴金屬回收行業(yè),XRF可快速鑒別合金成分,指導(dǎo)分選流程,使回收效率提升40%以上。
操作便捷,適應(yīng)多元場景
現(xiàn)代X熒光光譜儀設(shè)備集成智能化軟件,操作人員無需專業(yè)背景即可完成檢測。臺式設(shè)備配備高精度準直器,可分析微小區(qū)域(如0.5mm直徑);便攜式設(shè)備則支持野外作業(yè),滿足海關(guān)查驗、礦山勘探等場景需求。
X熒光光譜儀以無損檢測、多元素分析及操作便捷性,重構(gòu)了貴金屬質(zhì)量驗證的技術(shù)范式。在“零損耗”與“高精度”的雙重需求下,X熒光光譜儀已成為貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈中不可或缺的檢測工具。